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FDT落下測試模擬技術發表會圓滿落幕

 
 

 

 

於2013年11月6日由合研科技主辦,於南港創業育成中心會議廳順利舉行並圓滿落幕。本次與會的廠商約有20幾家,共計38位CAE同好共襄盛舉。

本次活動主要進行FDT (Fast Drop Test) 解決對策技術發表,合研科技的技術團隊,針對國內CAE用戶於落下測試模擬分析上,將流程標準化。透過這樣的方式,任何使用者皆可以快速的上手,滿足電子產品在於快速研發上的需求。過程中,完整介紹FDT的發展概念,讓使用者了解,透過FDT可以輕鬆的完成將落下與落球測試模擬。會後,開放使用者現場提問,多數的使用者都肯定,FDT可以為公司於落下測試模擬分析上,進行速度上的提升。另外,有些公司的CAE研發為ME機構部門主導,FDT比起一般的分析軟體,更容易讓ME工程師接受,且可以大量降低學習上的困難。合研科技,透過這樣的活動,日後將會開立免費的現場體驗課程,歡迎有興趣的同好,可以現場實機操作,了解FDT帶來的效益。